Saludos @felixrodriguez, gracias por leer mi publicación y comentar.
Efectivamente la calibración es realizada cada vez que alguien cambia las placas paralelas según la forma y tamaño del material que desee medir, ya que esto cambia la configuración del sistema. En mi caso particular, realizo el estudio sobre materiales semiconductores que han sido depositados sobre vidrio y otros que tienen forma de oblea, así que si más nadie toca el equipo, entonces no necesito realizar la calibración nuevamente.